테프론 튜브 표면 비전 검사 시스템 (HawK·AI-TEFLON-II)

테프론 튜브 표면 비전 검사 시스템(HawK·AI-TEFLON-II)은 테프론 튜브의 표면 결함을 검사하는 시스템입니다. 카메라와 조명을 사용하여 튜브 표면의 이미지를 수집한 후, AI 기반 소프트웨어를 통해 이미지를 처리하고 결함을 식별합니다. 패턴 인식 알고리즘을 통해 미세한 흠집, 균열 등의 결함을 정확하게 검출하며, 분석된 결과를 실시간으로 제공하여 품질 관리와 생산 효율성을 향상시킵니다.